研究队伍
 
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研究队伍

姓 名:
  李慧云
性 别:
  女
职 称:
  研究员
学 历:
  博士
通讯地址:
 
电 话:
  0755-86362150
传 真:
 
电子邮件:
  hy.li@siat.ac.cn
个人主页:
  http://www.escience.cn/people/hyli/index.html

简介:

  李慧云,获英国剑桥大学计算机系博士,现为中国科学院深圳先进技术研究院研究员、 硕士生导师、获中国科学院青年创新促进会会员(中科院人才项目支持)、 深圳市地方级领军人才,深圳市孔雀计划人才。主要研究方向为密码安全芯片设计、验证、测试,汽车电子与系统等。作为项目负责人,承担了多项国家、省部级、地方级项目,包括国家02重大专项、国家863计划项目、国家自然基金项目等。李慧云博士是IEEE会员,多个国际期刊杂志审稿人,已发表国际期刊和会议论文50 余篇,包括IEEE transactions on Circuits and Systems, IEEE transactions on VLSI,IEEE Transactions on Nuclear Science以及Workshop on Cryptographic Hardware and Embedded Systems (CHES)等。并发表2本专著,已获授权国家发明专利4份,实用新型专利1份,软件著作权5份。其中一项科技成果2011年转移转化并孵化一家高技术公司,目前年销售额2000余万元。 


研究方向:

  密码安全芯片设计、验证、测试 


专家类别:

职务:
中心副主任

社会任职:

获奖及荣誉:

1. 2014年获中科院广州教育基地“优秀研究生导师”荣誉称号 

2. 2014年深圳市海外高层次人才孔雀计划B类人才 

3. 2013年“中国科学院青年创新促进会”会员 

4. 2012年“优秀党务工作者”,中国科学院广州分院,广东省科学院 

5. 2009年 “RFID在出境木质包装上的防伪应用”获中国植物保护学会科学技术三等奖(深圳市检验检疫局和中国科学院深圳先进技术研究院合作完成) 

6. 2009年获深圳市“地方级领军人才”荣誉称号 

7. 2008年“RFID在出境木质包装上的防伪应用”获深圳市检验检疫局“科技兴检”二等奖 

8. 2003年获英国剑桥大学“剑桥海外学者(Cambridge overseas trust scholar)”荣誉称号 

    

代表论著:

代表性学术论文 

1.  Huiyun Li*, Guanghua Du*, Cuiping Shao, Liang Dai, Guoqing Xu, Jinlong Guo, “Heavy-ion Microbeam Fault Injection into SRAM-based FPGA Implementations of Cryptographic Circuits”, IEEE Transactions on Nuclear Science, DOI: 10.1109/TNS.2015.2423672, 2015 (SCI, IF=1.455, JCR1区) 

2. Guanghua Du*, Jinlong Guo, Ruqun Wu, Na Guo, Wenjing Liu, Fei Ye, Lina Sheng, Huiyun Li, “The first interdisciplinary experiments at the IMP high energy microbeam facility”, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, NIMB Proceedings, in press, doi:10.1016/j.nimb.2015.01.066, 2015 (SCI, IF=1.186, JCR 2区) 

3. Xiaolong Zhang, Huiyun Li*, Li Jiang, Qiang Xu, “A Low-Cost TSV Test and Diagnosis Scheme Based on Binary Search Method”,IEEE Transactions on Very Large Scale Integration Systems, in press, DOI: 10.1109/TVLSI.2014.2362560, 2015 (SCI, IF=1.142, JCR 2区) 

4. Huiyun Li*, Xiaobo Hu, Cuiping Shao, Jianbin Zhou, Guoqing Xu, “SEU Reliability Evaluation of 3D ICs”, Electronics Letters, Vol. 51, no. 4, pp. 362-364, 2015 (SCI, IF= 1.068, JCR 3区) 

5. C. Shao, H. Li*, G. Xu, L. Xiong, “A Design for Security Test (DFST) against Fault Injection Attacks”, Electronics Letters, Vol. 50 No. 23 pp. 1677–1678, 2014 (SCI, IF= 1.068, JCR 3区)  

6. Huiyun Li, Keke Wu, Fengqi Yu, “Enhanced Correlation Power Analysis Attack against Trusted Systems”, Wiley Journal of Security and Communication Networks, Volume 4, Issue 1, pages 3-10, 2011 (SCI, JCR4区) 

7. Huiyun Li, A. Theodore Markettos, Simon Moore, "Security Evaluation Against Electromagnetic Analysis at Design Time",   in proceedings of Workshop on Cryptographic Hardware and Embedded Systems (CHES 2005), Aug 2005 (SCI, acceptance rate=30%) 

8. J. Fournier, S.W. Moore, H. Li, R.D. Mullins, G.S. Taylor,  "Security Evaluation of Asynchronous Circuits",   Workshop on Cryptographic Hardware and Embedded Systems (CHES 2003), September 2003, (SCI, acceptance rate=29%) 

9. Gwee B.H., Chang J.S. and Li H.Y. "A Micropower LowDistortion Digital Pulse Width Modulator for a Digital Class D Amplifier", IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Analog and Digital Signal Processing, renamed as IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers. vol. 49, No. 5, pp. 1-13, 2002 (SCI, JCR一区) 

专著 

1. 李慧云、李大为、罗鹏、尹旭程,《密码安全芯片与侧信道技术》,科学出版社,ISBN 978-7-03-039325-8, 2014 

2. Huiyun Li, Gwee Bah Hwee, “Digital Pulse Width Modulator -- Low-power, LowDistortion, for Digital Class D Amplifier”, ISBN 978-3-639-17876-0,  Publisher: VDM Publishing House Ltd. 2009